Spis treści zeszytu Elektronika XLIX nr 3/2008
Wdrażanie technologii bezołowiowego lutowania rozpływowego
- jakość połączeń lutowanych (Implementation
of lead - free surface mount technology - quality
of solder joints) - G. Kozioł, J. Gromek . . . . . . . . . . . . . 9
System do kontroli jakości kondensatorów przeciwzakłóceniowych
(System applied for testing of noise
suppressing capacitors) - W. Kornacki, T. Kozłowski,
P. Machalica, P. Studziński, J. Zając . . . . . . . . . . . . . . 14
Topienie indukcyjne w warunkach lewitacji (Induction
melting in conditions of levitation) - P. Ostrowski . . . . 20
Estymacja parametrów drżeń Parkinsona przy użyciu
spektralnej analizy sygnału pomiarowego (The parameter
estimation of Parkinson's tremor with the use of
spectral analysis of measurements signals) - J. Kern,
W. Kornacki . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
Adaptacja architektury cyfrowego urządzenia EAZ
do pomiarów jakości zasilania (Adaptation of digital
protection relay architecture to power quality measurements)
--P. Kluk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Badania zaburzeń impulsowych w sieciach elektroenergetycznych
niskiego napięcia (The research
of pulse disturbance in low voltage power networks)
- S. Kuciński . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
Zabezpieczenie wirnika generatora w urządzeniach
EAZ produkowanych w Instytucie Tele- i Radiotechnicznym
(Power generator rotor protection in devices
produced by ITR) - M. Tupaj . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
Zastosowanie automatycznej inspekcji optycznej w
technologii montażu płytek drukowanych (Application
of automatic optical inspection in surface mount
technology) - W. Stęplewski . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
Pomiary wielkości kryterialnych we współczesnych
cyfrowych urządzeniach EAZ (Measurements of decision-
quantities in modern digital power protection relays)
- P. Kluk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
Konfiguracja przekładników napięciowych do pomiaru
napięć fazowych i międzyfazowych w urządzeniach
EAZ (Configuration of voltages transformers for
measurement of phase-to-neutral and phase-to-phase
voltages in digital power protection relays) - K. Broda,
J. Dumała . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
Kontrola lutowności materiałów i podzespołów elektronicznych
metodą meniskograficzną (Solderability
assessment of materials and electronic components by
using the wetting balance method) - J. Sitek . . . . . . . 51
Inspekcja wizyjna jakości powierzchni tulei cylindrów
po operacji honowania (Visual inspection of cylinder liners
surface quality after honing process) - W. Małkiński,
J. Zając, M. Karliński . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Metody oznaczania niebezpiecznych substancji w
materiałach i wyrobach elektronicznych objętych
dyrektywą RoHS (Methods for determination of hazardous
substances in electronic materials and products
regulated by RoHS directive) - K. Bukat, G. Kozioł,
M. Kościelski . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
Sposoby określania zawartości harmonicznych spotykane
w elektroenergetycznej automatyce zabezpieczeniowej
(Methods of harmonic content determination
in power protection relays) - Ł. Sapuła . . . . . . . . . . . . 68
Analiza profilowa układów warstwowych metodą
spektrometrii mas wyładowania jarzeniowego (Depth
profile analysis of layered structures by glow discharge
mass spectrometry) - P. Konarski, K. Kaczorek . . . . . 73
Nanomateriały węglowe (Carbonaceous nanomaterials)
- E. Czerwosz, E. Kowalska, M. Kozłowski . . . . . . . . . 75
Wymagania stawiane urządzeniom EAZ przez przemysł
wydobywczy (Requirements put on power protection
relays by mining industry) - J. Chudorliński,
M. Rup . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
Zalety i wady bezołowiowych powłok ochronnych płytek
drukowanych (Comparison of protective Pb-free coatings
for printed circuit boards) - J. Bieliński, A. Araźna,
G. Kozioł, A. Bielińska . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
Zastosowanie urządzenia rentgenowskiego do wykrywania
błędów lutowania (Usage of X-ray inspection for
detecting soldering failures) - M. Kościelski . . . . . . . . 88
Radiacja w modelowaniu urządzeń elektrotermicznych
na przykładzie urządzenia do pomiaru ciśnienia
rozprężania węgla (Thermal radiation in modeling
of electric furnances on example of expansion pressure
furnance) - M. Wesołowski, D. Kucharski . . . . . . . . . . 90
System dwupętlowej programowej regulacji temperatury
stanowiska do monokrystalizacji SiC
(Double-loop programmed temperature control of system
for SiC monocrystallization) - M. Orzyłowski,
W. Łobodziński . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
Szkło nieliniowe dla fotoniki. Część 2. Nieliniowość
mechaniczna i termiczna szkła (Nonlinear glasses for
photonics. Part 2. Mechanical and thermal nonlinearity
of glass) - R. Romaniuk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100
Modyfikacja metodyki pomiarów parametrów przepływów
dwufazowych ciecz-gaz ultradźwiękową metodą
echa (Modification of the methodology for two-phase
liquid-gas flows parameters measurements with ultrasonic
echo method) - A. Andruszkiewicz . . . . . . . . . . 106
KSIĄŻKI (BOOKS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
TECHNIKA SENSOROWA: Bulk silicon detectors
of lonizing radiation. The role of the depletion
layer (Objętościowe detektory krzemowe promieniowania
jonizującego. Rola warstwy zubożonej)
- J. Marczewski . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
Streszczenia artykułów • Summaries of the articles
KOZIOŁ G., GROMEK J.: Wdrażanie technologii bezołowiowego
lutowania rozpływowego - jakość połączeń lutowanych
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 9
W Zakładzie Innowacji Technologii Montażu Elektronicznego ITR
wdrożona została na skalę produkcyjną technologia montażu
podzespołów elektronicznych o dużej gęstości upakowania połączeń
w warunkach montażu bezołowiowego na w pełni automatycznej linii
SMT. Zaprezentowano wyniki badań procesu montażu na płytkach
drukowanych przede wszystkim wielowyprowadzeniowych obudów
QFP i miniaturowych podzespołów czynnych typu PBGA i CSP (Chip
Scale Package) z wyprowadzeniami ukrytymi pod spodem obudowy
z rastrem rozmieszczenia ? 0,75 mm oraz miniaturowych podzespołów
biernych o gabarytach 0402 (1,0 × 0,5 mm) i 0201 (0,5 ×
0,25 mm).
Słowa kluczowe: lutowanie bezołowiowe, podzespoły miniaturowe
BGA, CSP
KORNACKI W., KOZŁOWSKI T., MACHALICA P., STUDZIŃSKI
P., ZAJĄC J.: System do kontroli jakości kondensatorów
przeciwzakłóceniowych
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 14
Przedstawiono koncepcję systemu przeznaczonego do testowania
kondensatorów przeciwzakłóceniowych. Opisano składowe systemy:
pomiarowy, mechatroniczny i informatyczny oraz główne problemy
związane z jakością testowania oraz sposoby ich rozwiązania.
Słowa kluczowe: bazy danych, transmisja szeregowa, GPIB, mostek
RLC, kontakty teleskopowe, układ kontroli kontaktów, mechatronika,
silnik krokowy, manipulator, sterowniki PLC, indekser
OSTROWSKI P.: Topienie indukcyjne w warunkach lewitacji
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 20
Przedstawiono rys historyczny i podstawy teoretyczne topienia
indukcyjnego w warunkach lewitacji. Omówiono podstawowe zastosowania
i wykorzystanie metody. Zaprezentowano przykładowe
wyniki obliczeń pól fizycznych i deformacji wsadu. Omówiono zależność
siły lewitacji w funkcji średnicy wsadu przy określonych parametrach
materiału i warunkach zasilania dla wybranego kształtu
wzbudnika. Obliczenia zostały przeprowadzone z wykorzystaniem
komercyjnych programów obliczeniowych oraz autorskich procedur
i algorytmów. Przeprowadzono porównanie wyników obliczeń
deformacji z dokumentacją zdjęciową oraz przedstawiono rezultaty
badań doświadczalnych wykonanych na rzeczywistym urządzeniu.
Słowa kluczowe: nagrzewanie indukcyjne, lewitacja, wzbudnik, deformacja,
napięcie powierzchniowe
KERN J., KORNACKI W.: Estymacja parametrów drżeń Parkinsona
przy użyciu spektralnej analizy sygnału pomiarowego
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 24
Zaprezentowano komputerowe procedury estymacji parametrów
drżeń Parkinsona opracowane przy użyciu analizy spektralnej cyfrowych
sygnałów pomiarowych przy zastosowaniu symulacji komputerowej,
weryfikującej skuteczność testowanych algorytmów. Analizowane
sygnały pomiarowe są uzyskiwane z akcelerometrycznego,
mikrokomputerowego modułu akwizycji sygnałów elektrofizjologicznych,
zawierającego przetwornik analogowo-cyfrowy z układem próbkującym,
a opracowana procedura komputerowa jest narzędziem
telemetrycznego systemu diagnostyki, projektowanego w ITR, służącym
do badania stanów pacjentów, cierpiących na chorobę Parkinsona
i wykrywania jej symptomów.
Słowa kluczowe: estymacja parametrów drżeń w chorobie Parkinsona,
telemetryczny system diagnostyczny, cyfrowe przetwarzanie
sygnałów drżeń
KLUK P.: Adaptacja architektury cyfrowego urządzenia EAZ do
pomiarów jakości zasilania
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 30
Urządzenia zabezpieczeniowe EAZ (Elektroenergetyczna Automatyka
Zabezpieczeniowa) oraz analizatory jakości zasilania mają
wspólną dziedzinę zastosowań, a mianowicie sieci elektroenergetyczne.
Konieczność wykorzystania ich we współczesnych sieciach
elektroenergetycznych wynika z jednej strony z wymagań związanych
z bezpieczeństwem użytkowania, a z drugiej - z norm dotyczących
kompatybilności elektromagnetycznej. Przedstawiono porównanie
urządzenia EAZ oraz analizatora jakości zasilania, a następnie sformułowano
wymagania, będące podstawą adaptacji architektury urządzenia
EAZ do pomiarów jakości zasilania.
Słowa kluczowe: cyfrowe urządzenie EAZ, analizator jakości zasilania,
cyfrowe przetwarzanie sygnałów
KUCIŃSKI S.: Badania zaburzeń impulsowych w sieciach elektroenergetycznych
niskiego napięcia
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 33
Przedstawiono niektóre problemy związane z badaniami zaburzeń
impulsowych w sieciach elektroenergetycznych niskiego napięcia.
Uzasadniono potrzebę przeprowadzania tego rodzaju badań dla zapewnienia
właściwego działania odbiorników zasilanych z sieci oraz
określono źródła zaburzeń impulsowych. Następnie podano metody
przeprowadzenia tych badań i opisano stosowane wyposażenie.
Przedstawiono również niektóre wyniki badań zaburzeń impulsowych
w jednej z sieci elektroenergetycznych.
Słowa kluczowe: zaburzenia impulsowe, jakość energii elektrycznej
TUPAJ M.: Zabezpieczenie wirnika generatora w urządzeniach
EAZ produkowanych w Instytucie Tele- i Radiotechnicznym
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 39
Przedstawiono układ zabezpieczenia wirnika generatora energetycznego.
Układ chroni przed skutkami pojawienia się upływności między
uzwojeniem wirnika a jego wałem. W zabezpieczeniu wykorzystano
układ omomierza szeregowego.
Słowa kluczowe: zabezpieczenie wirnika generatora energetycznego,
omomierz szeregowy, upływność
STĘPLEWSKI W.: Zastosowanie automatycznej inspekcji optycznej
w technologii montażu płytek drukowanych
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 40
Rozwój sprzętu elektronicznego i technologii montażu wymaga zastosowania
coraz wydajniejszych narzędzi kontroli jakości. Jednym
z nich jest automatyczna inspekcja optyczna - AOI. Umożliwia ona
znaczne skrócenie czasu kontroli wyrobów podczas montażu. Przedstawiono
najnowsze możliwości i osiągnięcia w dziedzinie AOI w Instytucie
Tele- i Radiotechnicznym, które mają na celu poprawę jakości
i niezawodności wyrobów elektronicznych.
Słowa kluczowe: automatyczna inspekcja optyczna (AOI), płytka
drukowana, montaż powierzchniowy (SMT), podzespół do montażu
powierzchniowego (SMD)
KLUK P.: Pomiary wielkości kryterialnych we współczesnych cyfrowych
urządzeniach EAZ
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 44
We współczesnych urządzeniach EAZ, pomiarów (estymacji) wartości
wielkości kryterialnych dokonuje się przeważnie na drodze cyfrowej,
przy wykorzystaniu cyfrowego przetwarzania sygnałów. Jest to
możliwe dzięki zastosowaniu powszechnie dostępnych, wydajnych
procesorów DSP. W artykule przedstawiono typowy zbiór wielkości
kryterialnych, niezbędny do realizacji większości funkcji zabezpieczeniowych
w nowoczesnym urządzeniu EAZ oraz opisano algorytmy
pomiarowe służące do estymacji wartości tych wielkości w kontekście
praktycznej realizacji w urządzeniu EAZ, opartym na procesorze DSP
Blackfin firmy Analog Devices.
Słowa kluczowe: cyfrowe urządzenie EAZ, pomiary wielkości kryterialnych,
cyfrowe przetwarzanie sygnałów, procesor DSP
BRODA K., DUMAŁA J.: Konfiguracja przekładników napięciowych
do pomiaru napięć fazowych i międzyfazowych w urządzeniach
EAZ
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 48
Zaprezentowano przykłady połączeń przekładników napięciowych,
wykorzystywanych do pomiaru napięć w urządzeniach EAZ. Porównano
również omawiane układy połączeń pod kątem wielkości
pomiarowych, wielkości obliczonych na podstawie zrealizowanych
pomiarów oraz liczby użytych przekładników napięciowych w poszczególnych
układach.
Słowa kluczowe: urządzenia EAZ, przekładnik napięciowy, układ
pomiarowy
SITEK J.: Kontrola lutowności materiałów i podzespołów elektronicznych
metodą meniskograficzną
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 51
Omówiono metodę meniskograficzną jako narzędzie służące do badania
lutowności materiałów (stopów, topników, powłok płytek drukowanych)
i wyprowadzeń podzespołów stosowanych w procesach
lutowania sprzętu elektronicznego. Przedstawiono najnowsze osiągnięcia
w tym zakresie, poparte wynikami badań na meniskografie Menisco
ST88 z opcją pomiarów w atmosferze ochronnej.
Słowa kluczowe: metoda meniskograficzna, lutowność
MAŁKIŃSKI W., ZAJĄC J., KARLIŃSKI M.: Inspekcja wizyjna jakości
powierzchni tulei cylindrów po operacji honowania
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 55
Przedstawiony w artykule system pomiarowy przeznaczony jest do
inspekcji optycznej jakości wewnętrznej powierzchni tulei cylindrów
silników spalinowych po operacji honowania. System umożliwia interaktywny
pomiar wielkości charakterystycznych inspekcji: odległości
punktów charakterystycznych, kątów przecięcia rys honowniczych,
promieni okręgów i pól powierzchni wielokątów obejmujących wyróżnione
obszary powierzchni. Stanowisko umożliwia przeprowadzenie
inspekcji przy różnych wartościach powiększenia i różnych konfiguracjach
oświetlenia, w dowolnym obszarze badanej tulei.
Słowa kluczowe: przetwarzanie i analiza obrazów, systemy wizji
maszynowej, automatyczna inspekcja optyczna, inspekcja jakości
powierzchni, systemy zarządzania jakością, proces honowania
BUKAT K., KOZIOŁ G., KOśCIELSKI M.: Metody oznaczania niebezpiecznych
substancji w materiałach i wyrobach elektronicznych
objętych dyrektywą RoHS
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 62
Przedstawiono wymagania dyrektywy RoHS, dotyczące poziomów zawartości
substancji niebezpiecznych w sprzęcie elektrycznym i elektronicznym.
Omówiono metody badań na zgodność z dyrektywą RoHS,
szczególnie "przesiewową" metodą przy użyciu rentgenowskiego spektrometru
fluorescencyjnego z dyspersją energii EDX. Podano przykłady
pomiarów past lutowniczych oraz podzespołów. Pokazano, jak istotne
jest przygotowanie próbek do badań oraz zalecane metody analityczne.
Słowa kluczowe: dyrektywa RoHS, XRF, niebezpieczne substancje
SAPUŁA Ł.: Sposoby określania zawartości harmonicznych spotykane
w elektroenergetycznej automatyce zabezpieczeniowej
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 68
W artykule opisano najczęściej spotykane sposoby określania zawartości
harmonicznych, występujące w zabezpieczeniach elektroenergetycznych.
Przedstawiono także wyniki analizy zawartości harmonicznych
powstałe w trakcie załączania transformatora. Wszystkie
wyniki pochodzą z symulacji.
Słowa kluczowe: harmoniczne, przekaźnik zabezpieczeniowy
KONARSKI P., KACZOREK K.: Analiza profilowa układów warstwowych
metodą spektrometrii mas wyładowania jarzeniowego
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 73
Przedstawiono wyniki prac badawczych dotyczących zastosowania
nowo opracowanego spektrometrycznego analizatora wyładowania jarzeniowego
(typ SMWJ-01) do analizy profilowej układów warstwowych.
Jako układy testowe badano cienkie warstwy azotków tytanu i chromu
nanoszone metodą plazmową na powierzchnię stali. W trakcie analizy
powierzchnia badanych próbek ulega trawieniu jonowemu w obszarze
wyładowania jarzeniowego. Rozpylone składniki atomowe ulegają jonizacji
i są analizowane przez układ kwadrupolowego filtru mas. Rejestrowane
prądy jonów odzwierciedlają skład atomowy rozpylanych warstw.
Zastosowana metoda umożliwia analizę warstw (szybkość trawienia ok.
0,8 ľm/min). Czas analizy jest krótki - wynosi ok. 15 min wraz z zamocowaniem
badanej próbki w analizatorze. Do wytworzenia wyładowania
jarzeniowego stosowano stałe napięcie 1350 V oraz ciśnienie argonu
ok. 1 hPa. Analizator GDMS typ SMWJ-01 może być stosowany do charakteryzacji
cienkich warstw, a wyniki mogą być zastosowane w technologii
nanoszenia warstw oraz kontroli ich jakości.
Słowa kluczowe: spektrometria mas, wyładowanie jarzeniowe,
GDMS, analiza profilowa, cienkie warstwy, twarde pokrycia, TiN, CrN
CZERWOSZ E., KOWALSKA E., KOZŁOWSKI M.: Nanomateriały
węglowe
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 75
Zaprezentowano metody otrzymywania i badań niektórych nanomateriałów
węglowych. Omówiono zwłaszcza fulereny, nanorurki oraz
nanokompozyty węglowe. Przedstawiono nanomateriały węglowe
opracowane i otrzymywane w ITR.
Słowa kluczowe: nanorurki węglowe, fulereny, węglowe nanomateriały
kompozytowe
CHUDORLIŃSKI J., RUP M.: Wymagania stawiane urządzeniom
EAZ przez przemysł wydobywczy
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 79
Przedstawiono specyfikę przemysłu wydobywczego oraz wymagania
dotyczące elektroenergetycznej aparatury zabezpieczeniowej EAZ
w tym sektorze przemysłu. Przedstawiono również przykłady zastosowań
urządzeń EAZ. Zwrócono też uwagę na specyfikę działania
wybranych zabezpieczeń i układów automatyk.
Słowa kluczowe: przemysł wydobywczy, elektroenergetyczna aparatura
zabezpieczeniowa EAZ
BIELIŃSKI J., ARAŹNA A., KOZIOŁ G., BIELIŃSKA A.: Zalety
i wady bezołowiowych powłok ochronnych płytek drukowanych
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 83
Opisano podstawowe czynniki określające rozwój współczesnych
technologii płytek drukowanych wraz z elementami istotnymi dla zastosowań
nowych powłok lutowniczo-ochronnych. Na podstawie literatury
przedstawiono rozwój aplikacji różnych grup powłok oraz zmiany ich
udziału w produkcji płytek drukowanych w Europie i na świecie w ciągu
ostatnich 10 lat. Scharakteryzowano krótko poszczególne rodzaje
aktualnie stosowanych na świecie powłok lutowniczo-ochronnych, wytwarzanych
metodami chemicznymi i elektrochemicznymi, a przede
wszystkim warstw związków organicznych (OSP), układów warstwowych
Ni-P/Au i Ni-P/Pd/Au, warstw immersyjnych cyny, srebra i złota.
Słowa kluczowe: powłoki lutowniczo-ochronne, płytki drukowane,
eliminacja ołowiu
KOśCIELSKI M.: Zastosowanie urządzenia rentgenowskiego do
wykrywania błędów lutowania
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 88
Zastosowanie analizy rentgenowskiej do badania wysokiej jakości
zespołów lutowanych na płytkach drukowanych umożliwia uzyskanie
szybkiej informacji o błędach lutowania i umożliwia wprowadzanie
korekt w procesie produkcji. Zestawiono przykłady analizy rentgenowskiej
poprawnie polutowanych układów oraz wadliwych.
Słowa kluczowe: inspekcja rentgenowska, wykrywanie wad połączeń
lutowanych, układy BGA, QFP
WESOŁOWSKI M., KUCHARSKI D.: Radiacja w modelowaniu
urządzeń elektrotermicznych na przykładzie urządzenia do pomiaru
ciśnienia rozprężania węgla
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 90
W ostatnich latach projektowanie urządzeń elektrotermicznych niemal
zawsze wspomagane jest przez symulację numeryczną. Powszechnie
stosowane systemy obliczeniowe, jak Quick Field, TAS czy ANSYS,
pozwalają zazwyczaj na odwzorowanie zjawisk zachodzących
w rzeczywistych obiektach z zadowalającą dokładnością. W artykule
zwrócono uwagę na zjawisko promieniowania cieplnego z odbiciami
wielokrotnymi w aspekcie projektowania urządzeń elektrotermicznych.
Na przykładzie laboratoryjnego pieca komorowego do oznaczania
ciśnienia rozprężania wykazano, iż pominięcie tego zjawiska przy
projektowaniu pieców średnio- i wysokotemperaturowych może przyczyniać
się do wzrostu błędu symulacji ponad akceptowalny poziom.
Słowa kluczowe: piec komorowy, wymiana ciepła przez promieniowanie,
obliczenia numeryczne
ORZYŁOWSKI M., ŁOBODZIŃSKI W.: System dwupętlowej programowej
regulacji temperatury stanowiska do monokrystalizacji SiC
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 95
Omówiono syntezę struktury układu regulacji pieca do monokrystalizacji
SiC z dwusekcyjnym grzejnikiem grafitowym. Opisano etap modelowania
matematycznego rozkładów pól temperatury w projektowanym piecu.
W celu opracowania struktury układu regulacji posłużono się uproszczonym
modelem pieca o stałych skupionych 6. rzędu. W wyniku analizy
macierzy sterowania optymalnego dla tego modelu dokonano redukcji
układu sterowania do suboptymalnej dwupętlowej postaci. Następnie
oparto się na analizie transmitancji operatorowych, wartości własnych
macierzy stanu oraz odpowiedzi czasowych układów ze sprzężeniem
zwrotnym, a także na symulacji programowej regulacji pieca. Efektem
badań jest koncepcja suboptymalnego układu regulacji temperatury pieca,
zawierającego dwie niezależne pętle regulacji typu PID.
Słowa kluczowe: regulacja temperatury, piec wysokotemperaturowy,
monokrystalizacja, węglik krzemu
ROMANIUK R.: Szkło nieliniowe dla fotoniki. Część 2. Nieliniowość
mechaniczna i termiczna szkła
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, s. 100
W artykule, który jest drugą częścią cyklu prac o szkłach nieliniowych,
dokonano przeglądu nieliniowych właściwości mechanicznych i termicznych
szkieł nieliniowych przeznaczonych dla fotoniki. Określono
obszary mechanicznej i termicznej nieliniowości statycznej i dynamicznej
szkieł, bazując na wzajemnym oddziaływaniu ośrodka, fali
optycznej i pól termomechanicznych. Zebrano te nieliniowe cechy
mechaniczne i termiczne szkieł, które decydują o ich nieliniowych
właściwościach optycznych.
Słowa kluczowe: szkła optyczne, fotosprężystość, moduły sprężystości,
prawo Hooka, wpółczynniki elastooptyczne, fala fononowa,
rozpraszanie Brillouina, rozpraszanie Ramana, fale magnonowe, fale
polarytonowe, fale polaronowe
ANDRUSZKIEWICZ A.: Modyfikacja metodyki pomiarów parametrów
przepływów dwufazowych ciecz-gaz ultradźwiękową metodą
echa
Elektronika (XLIX), nr 3/2008, p. 106
Dokonano przeglądu układów do pomiarów przepływów dwufazowych
ciecz-gaz przy wykorzystaniu impulsowej ultradźwiękowej metody
echa. Na podstawie kryterium maksymalnej wartości unormowanej
funkcji interkowariancji sygnałów dokonano wyboru optymalnej
metody pomiarowej. Do dalszych prac dotyczących badań przepływów
dwufazowych, w tym również przepływów ciekły metal-gaz zaproponowano
układ z 8 czujnikami ultradźwiękowymi, kartą NI6023E
oraz oprogramowaniem DASYLab firmy DASYTEC, umożliwiający
w czasie 180 s analizę do 9000 poruszających się pęcherzy zarówno
w kierunku drogi przepływu, jak i w kierunku prostopadłym.
Słowa kluczowe: ultradźwiękowa-impulsowa metoda echa, defektoskop
ultradźwiękowy, funkcja korelacji sygnałów
MARCZEWSKI J.: Objętościowe detektory krzemowe promieniowania
jonizującego - rola warstwy zubożonej
Elektronika (XLIX), no 3/2008, s. 115
Praca dotyczy całkowicie zubożonych krzemowych detektorów promieniowania
jonizującego. Detektory takie odgrywają istotną rolę w
fizyce wysokich energii oraz ostatnio w wielu zastosowaniach medycznych
a nawet kosmicznych. Są one bardzo czułe na oddziaływanie
z niskoenergetycznymi fotonami oraz cząstkami jonizującymi.
Charakteryzują się wysoką rozdzielczością energetyczną i dużą
szybkością. Jako detektory pozycyjne krzemowe detektory w pełni
zubożone osiągają dokładność sięgającą kilku mikrometrów zaś użycie
jako materiału krzemu ułatwia ich integrację z zazwyczaj krzemową
elektroniką odczytową. W pracy bardziej obszernie potraktowano nowe
konstrukcje detektorów pozycyjnych a zwłaszcza detektory pikselowe
o pikselach pomijanych przy odczycie, monolityczne detektory realizowane
w technologii SOI oraz nietypowe detektory paskowe. Artykuł
zawiera krótką analizę zjawisk zachodzących w warstwie zubożonej a
także kompendium wiedzy o różnorodnych konstrukcjach detektorów.
Słowa kluczowe: detektory, promieniowanie jonizujące, detektory
pozycyjne, warstwa zubożona
